VeOS 是一款配備基(ji)于半導體檢(jian)測器系(xi)統的(de)(de)(de)火(huo)花(hua)光(guang)譜儀(yi)，其分(fen)析性能（包括實(shi)驗室(shi)光(guang)譜儀(yi)所(suo)需的(de)(de)(de)光(guang)譜分(fen)辨率(lv)）與已建(jian)立的(de)(de)(de)基(ji)于光(guang)電倍(bei)增管的(de)(de)(de)系(xi)統一樣好。這種全新的(de)(de)(de)光(guang)電探(tan)測器技術(shu)專(zhuan)為火(huo)花(hua)發(fa)(fa)射光(guang)譜而開發(fa)(fa)，可確保(bao)在 130 至 800 nm 的(de)(de)(de)整個所(suo)需波(bo)長范圍內獲得(de)準(zhun)確的(de)(de)(de)結果。 光(guang)敏(min)探(tan)測器的(de)(de)(de)設計(ji)特點是其表面(mian)的(de)(de)(de)光(guang)敏(min)度(du)是傳統系(xi)統中探(tan)測器的(de)(de)(de) 100 倍(bei)，專(zhuan)門針對(dui)發(fa)(fa)射光(guang)譜的(de)(de)(de)要求進行了調整。因此，這是一款提供(gong)光(guang)譜靈敏(min)度(du)和光(guang)譜分(fen)辨率(lv)的(de)(de)(de)組合以及(ji)創新設計(ji)的(de)(de)(de)設備，既(ji)保(bao)證了 OBLF 的(de)(de)(de)眾所(suo)周知(zhi)的(de)(de)(de)質量，又(you)保(bao)證了大的(de)(de)(de)使用靈活性。

• 完整而靈活地包含所有分析任務
• 易于擴展的功能
• 新的、專門開發的檢測器技術
• 在檢出限、準確度、穩定性方面表現良好
• 堅固耐用的設計，適用于重載環境
• 全面的多矩陣應用選項，沒有任何限制
• 關于選擇分析元素
• 準確檢測 N 和痕量碳 (ULC)

• 光學系統：

Paschen-Runge 陣容

溫度穩定在 +5°C

分辨率 7 pm/Pixel（50 pm/Pixel 堿性光學）

波長范圍(wei) 130 - 680/780 nm

三種固態探測器

優化 OES 的像素區域

由于背面照明，對短波長的靈敏(min)度高

• 電子

每個像素的 16 位 AD 轉換

DSP 處理(li)器控制(zhi)的傳感器讀(du)數

連接光譜儀 PC 的 USB 接口

• 電源供應：

230V; 50/60 Hz; 1,5 kVA

待(dai)機(ji)模式下 300 W

• 環境條件

工(gong)作溫度：10 – 40 ºC

尺寸和重量

寬度：74 cm

高度：134 cm

深度：115 cm

重量：約 300 kg