在晶(jing)圓(yuan)上(shang)而(er)非(fei)封裝內(nei)測試(shi) Si 和(he)GaN/SiC 器(qi)件時，研(yan)發工程師(shi)和(he)測試(shi)操作員面臨(lin)著收集高精度數據的(de)(de)一些挑戰。其中包括需(xu)要(yao)在高電(dian)壓下抗(kang)電(dian)弧的(de)(de)探針(zhen)和(he)系統(tong)、用于高電(dian)流的(de)(de)低電(dian)阻(zu)探針(zhen)和(he)晶(jing)圓(yuan)接(jie)觸，以(yi)及對(dui)薄(bo)晶(jing)圓(yuan)的(de)(de)特殊處理。同時，對(dui)“快速(su)獲取(qu)準確數據”的(de)(de)需(xu)求需(xu)要(yao)快速(su)輕松地設置(zhi)復雜的(de)(de)高功(gong)率測試(shi)配置(zhi)，同時考(kao)慮到操作員和(he)設備(bei)。Keysight的(de)(de)緊密集成(cheng)儀器(qi)完善了系統(tong)，以(yi)提供測量精度和(he)可重復性。

來自(zi) FormFactor 的(de)預先驗證、交(jiao)鑰匙、綜合、集成的(de)測(ce)量系(xi)統(tong)為重(zhong)要的(de)測(ce)試應用提(ti)供(gong)安心和即(ji)時(shi)、開箱即(ji)用的(de)生產(chan)力。

這些是免費(fei)提供的(de)。FormFactor 的(de) IMS 解決方案不包括Keysight定價或集成(cheng)費(fei)用的(de)加價。

這個(ge)功率半導(dao)體器件表征系統建立(li)在研發儀器領域(yu)和分析探針(zhen)系統領域(yu)——FormFactor IMS-K-Power 的基礎之上(shang)。

配備 Keysight PDA 的(de)全面、交(jiao)鑰匙集(ji)成測量(liang)系統 (IMS) 用于(yu)晶圓上研發(fa)功率半導(dao)體器件特性測量(liang)

業界有效率、準確的功率半(ban)導體(ti)器件表征系統(tong)

實現高質量(liang)(liang)測量(liang)(liang)的(de)更(geng)快、更(geng)經濟的(de)途徑