LWP 系列光(guang)波探(tan)頭可(ke)以(yi)對晶圓上和(he)混(hun)合光(guang)子(zi)器件進(jin)行光(guang)學(xue)測量。它具有用戶可(ke)更換的光(guang)纖尾纖，使(shi)探(tan)頭能夠針(zhen)對各種光(guang)傳輸和(he)光(guang)收集應用進(jin)行優化，包括頂(ding)部照明光(guang)電二(er)極管的表征、垂直腔(qiang)面發(fa)射激光(guang)器 (VCSEL)、混(hun)合發(fa)射器和(he)接收器、

和 LED。

LWP 探(tan)頭可以照亮和(he)收集用于表征各(ge)種光(guang)子器件(jian)的光(guang)信號(hao)。當與 FormFactor 的探(tan)針臺和(he) RF/DC 探(tan)針結(jie)合使(shi)用時，LWP 探(tan)針可以提供(gong)調制(zhi)、頻譜(pu)、時域和(he)低(di)電(dian)平 LIV 測量。

現場可更(geng)換光(guang)纖(xian)(xian)尾(wei)(wei)纖(xian)(xian)的(de)選擇取決于(yu)所需(xu)的(de)照(zhao)明模(mo)式或(huo)收(shou)(shou)集(ji)(ji)效(xiao)率。光(guang)纖(xian)(xian)尾(wei)(wei)纖(xian)(xian)可用作(zuo)單模(mo)或(huo)多(duo)(duo)模(mo)，帶(dai)有(you)透鏡端面(mian)(mian)或(huo)切割端面(mian)(mian)。透鏡光(guang)纖(xian)(xian)尾(wei)(wei)纖(xian)(xian)提(ti)供高數值孔(kong)徑(jing) (NA) 照(zhao)明并(bing)以極低(di)的(de)背反(fan)射收(shou)(shou)集(ji)(ji)光(guang)線。帶(dai)透鏡的(de)單模(mo)光(guang)纖(xian)(xian)可提(ti)供小至 5 μm 的(de)照(zhao)明區域(yu)。多(duo)(duo)模(mo)尾(wei)(wei)纖(xian)(xian)非常適合(he)有(you)效(xiao)率的(de)光(guang)收(shou)(shou)集(ji)(ji)。

靈活性和易用性

• 針對各種應用進行了優化的現場可更換光纖
• 晶圓映射能力和關鍵參數的可視化顯示

準確性

• 接觸保護設計可確保在晶圓和基板級別進行快速、準確和可重復的測量
• 大限度地減少了高速測試的電氣寄生效應

兼容性

• 標準 FC 型光纖連接器
• 與 FormFactor 探針臺和附件兼容