在生成時進行測(ce)試的(de)引導(dao)式程序集。將多個 Cirris CR 測(ce)試儀連接在一起(qi)，用于(yu)具有(you)數(shu)千個點的(de)復雜組件(jian)。該系統支持引導(dao)式裝配(pei)，包(bao)括屏幕上(shang)的(de)連接器圖(tu)像(xiang)，包(bao)括正確腔(qiang)體位置、裝配(pei)板上(shang)的(de)引導(dao) LED 以(yi)及即時圖(tu)形和聲音(yin)反(fan)饋，以(yi)便在錯誤發(fa)生時捕獲錯誤。

• 多達 32，000 個測試點（256 點/盒）
• 基本單元重量小于 3 磅
• “菊花鏈”架構減少了接口布線的長度和復雜性
• 用戶可選的通過/失敗電阻閾值范圍為 0.1 Ω 至 500 kΩ。
• 多種測試模式

• 測試點
• 256分;可擴展到 32，000 點，增量為 256 點。（距基本設備最遠距離：200 英尺。
• 低壓測試
• 2 線
• 電壓：最大 10 V
• 電流：1.6 μA 至 6 mA
• 線電阻：0.1 Ω 至 100 Ω ±3% ±0.1 Ω
• 4 線
• 電壓：最大 10 V
• 電流：1.6 μA 至 6 mA
• 線電阻：0.005 Ω 至 80 Ω ±2% ±0.005 Ω