當前所在位置: 首頁 > 產品首頁 > 檢測、測量,自動化、工業IT > 檢查和檢測 > 傳(chuan)統顯(xian)微鏡
三維生(sheng)物(wu)樣品的(de)(de)(de)(de)(de)(de)熒光(guang)成(cheng)(cheng)像(xiang)具(ju)有挑戰性(xing)。 盡管僅從(cong)焦平面捕獲信號,但在(zai)(zai)照(zhao)亮整個樣品時,光(guang)漂白和(he)光(guang)損傷很常見。 UltraMicroscope II 通過(guo)將六片光(guang)集中在(zai)(zai)焦平面上來去除這些問題。 通過(guo)焦平面在(zai)(zai) z 軸(zhou)上移(yi)動樣本會生(sheng)成(cheng)(cheng)良(liang)好(hao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de) 3D 圖像(xiang),并且儀器(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)周到和(he)智能工程使得在(zai)(zai)生(sheng)理(li)相關(guan)環境(jing)中可視化生(sheng)物(wu)過(guo)程成(cheng)(cheng)為(wei)任何實(shi)驗(yan)室(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)主要(yao)方(fang)(fang)法。UltraMicroscope II 的(de)(de)(de)(de)(de)(de)開(kai)發(fa)改變了(le)一項(xiang)在(zai)(zai)一個多世紀以來仍未開(kai)發(fa)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)技(ji)術。 設(she)計和(he)工程的(de)(de)(de)(de)(de)(de)每個方(fang)(fang)面都(dou)是為(wei)了(le)滿足客戶(hu)提(ti)出的(de)(de)(de)(de)(de)(de)需(xu)求——“直接(jie)進入(ru)”的(de)(de)(de)(de)(de)(de)可用性(xing)、良(liang)好(hao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)操(cao)作(zuo)、堅固的(de)(de)(de)(de)(de)(de)組件(jian)、先進的(de)(de)(de)(de)(de)(de)光(guang)學(xue)器(qi)(qi)件(jian)。 該儀器(qi)(qi)現在(zai)(zai)是一種強大的(de)(de)(de)(de)(de)(de)研究工具(ju),任何人都(dou)可以在(zai)(zai)實(shi)驗(yan)室(shi)或(huo)成(cheng)(cheng)像(xiang)設(she)施等高使用環境(jing)中操(cao)作(zuo)。
Copyright© 2013-2023 上海連航機電科技有限公司 版權所有
地址:上海市寶山區滬太路1866號諾誠M7創意園B區211
電話 (Tel.):400-135-1288 傳真 (Fax):400-135-1288 郵箱 (E-mail):
 
|
掃描微信(xin)二(er)維碼關(guan)注(zhu)我們