LWP 系列光(guang)波探頭可以對(dui)晶圓上(shang)和混合光(guang)子器件(jian)進行(xing)光(guang)學測量。它具有用(yong)戶可更換的光(guang)纖尾纖，使探頭能夠針對(dui)各種光(guang)傳(chuan)輸和光(guang)收集(ji)應用(yong)進行(xing)優化(hua)，包括頂部照明光(guang)電二極管的表(biao)征、垂直腔面發射(she)激光(guang)器 (VCSEL)、混合發射(she)器和接收器、

和 LED。

LWP 探(tan)頭可(ke)以(yi)照亮(liang)和收集用(yong)于表征各種(zhong)光子(zi)器件的光信號。當與(yu) FormFactor 的探(tan)針(zhen)(zhen)臺和 RF/DC 探(tan)針(zhen)(zhen)結合(he)使用(yong)時，LWP 探(tan)針(zhen)(zhen)可(ke)以(yi)提供調制、頻譜(pu)、時域和低電平 LIV 測量。

現場(chang)可(ke)更(geng)換光(guang)(guang)纖(xian)(xian)尾(wei)(wei)纖(xian)(xian)的(de)(de)選擇(ze)取決于所需的(de)(de)照(zhao)明模式或收集(ji)效率。光(guang)(guang)纖(xian)(xian)尾(wei)(wei)纖(xian)(xian)可(ke)用作單(dan)模或多模，帶有透(tou)(tou)鏡端面(mian)或切割端面(mian)。透(tou)(tou)鏡光(guang)(guang)纖(xian)(xian)尾(wei)(wei)纖(xian)(xian)提(ti)供高數值孔徑 (NA) 照(zhao)明并以極低(di)的(de)(de)背反射收集(ji)光(guang)(guang)線。帶透(tou)(tou)鏡的(de)(de)單(dan)模光(guang)(guang)纖(xian)(xian)可(ke)提(ti)供小至 5 μm 的(de)(de)照(zhao)明區域。多模尾(wei)(wei)纖(xian)(xian)非常(chang)適(shi)合有效率的(de)(de)光(guang)(guang)收集(ji)。

靈活性和易用性

• 針對各種應用進行了優化的現場可更換光纖
• 晶圓映射能力和關鍵參數的可視化顯示

準確性

• 接觸保護設計可確保在晶圓和基板級別進行快速、準確和可重復的測量
• 大限度地減少了高速測試的電氣寄生效應

兼容性

• 標準 FC 型光纖連接器
• 與 FormFactor 探針臺和附件兼容