GL16光纖(xian)端面幾(ji)何形(xing)狀測(ce)量儀(yi)器(qi)使用非(fei)常簡單，能(neng)夠(gou)測(ce)量單芯(xin)和多(duo)芯(xin)接(jie)頭(tou)的(de)(de)端面幾(ji)何形(xing)狀，并對其成像(xiang)。它采用非(fei)接(jie)觸式白光掃描干涉技(ji)術(SWLI)，能(neng)夠(gou)提供高準(zhun)(zhun)確度、高重復性和高可(ke)靠性的(de)(de)光纖(xian)接(jie)頭(tou)測(ce)試，尤其適合(he)根據IEC或Telcordia標(biao)準(zhun)(zhun)進行的(de)(de)合(he)格(ge)/不合(he)格(ge)測(ce)試。系統既可(ke)以通過(guo)觸摸屏(ping)進行本地(di)控制，又(you)可(ke)以通過(guo)基于(yu)瀏覽(lan)器(qi)的(de)(de)應用程序實施遠(yuan)程操作，易于(yu)集成到生產車(che)間。

所(suo)有系統(tong)組件(jian)完全集成在(zai)封閉(bi)的(de)外殼中。寬帶(dai)寬570 nm LED光(guang)源配合邁克爾(er)遜干(gan)涉(she)物鏡使用(yong)，測(ce)量間隔高度(du)變化(hua)高達35 μm的(de)相移。壓(ya)電(dian)位移臺相對于接頭移動干(gan)涉(she)物鏡，并(bing)(bing)使用(yong)高分(fen)辨率(lv)相機收(shou)集所(suo)產生的(de)干(gan)涉(she)圖案。然后(hou)生成接頭表(biao)面的(de)3D高度(du)圖，并(bing)(bing)利用(yong)2.2 µm的(de)橫向分(fen)辨率(lv)和1.1 nm的(de)高度(du)分(fen)辨率(lv)計算(suan)光(guang)纖(xian)(xian)幾何(he)形狀參數。白光(guang)干(gan)涉(she)法還(huan)能夠(gou)表(biao)征凹陷(xian)或突出(chu)的(de)光(guang)纖(xian)(xian)，而這一點在(zai)使用(yong)單色干(gan)涉(she)儀時可能會被忽略。

附帶的(de)GL16M4 MT型安(an)裝(zhuang)夾具有助于實現一(yi)次8秒測量(liang)12芯每行的(de)插芯中max.72根(gen)光(guang)纖。換出附帶的(de)夾具，GL16還(huan)可測量(liang)其他光(guang)纖類(lei)型和(he)(he)接(jie)頭(tou)(tou)類(lei)型。請根(gen)據(ju)待測接(jie)頭(tou)(tou)類(lei)型和(he)(he)光(guang)纖數量(liang)在下方選擇合適的(de)安(an)裝(zhuang)組(zu)件。

• 3D干涉儀，用于測量端面幾何形狀
• 非接觸式閉環壓電白光掃描干涉技術(SWLI)
• 完全符合IEC和Telcordia等行業規范
• 兼容所有主要的接頭類型(請看下表)
• NIST可追蹤標準，用于放大倍率和偏轉位移臺的校準
• 集成的觸摸屏上提供完整的掃描信息，測量時間≤8 s(典型值)
• 基于瀏覽器的應用程序，支持遠程訪問操作
• 導出為.CSV格式的數據，SQL數據庫或掃描報告