一種用(yong)于測(ce)量集成電(dian)路內部(bu)節點(dian)電(dian)壓的(de)高(gao)(gao)速、高(gao)(gao)輸入阻抗有源探針。輸入為(wei)1兆歐，分流0.1 pf，上升/下降時(shi)間為(wei)0.8 ns。該儀器具有全直流功能，可與任(ren)何(he)示波(bo)器一起(qi)使(shi)(shi)用(yong)。MODEL 12C經過特(te)殊設計，當與高(gao)(gao)輸入阻抗示波(bo)器結合使(shi)(shi)用(yong)時(shi)，信(xin)號衰減為(wei)10:1，而(er)在(zai)50歐姆(mu)輸入時(shi)，信(xin)號衰減量為(wei)20:1。

MODEL 12C將承受(shou)大(da)的(de)輸入(ru)過電(dian)壓。已知的(de)故障(zhang)模式是探針端(duan)的(de)意外(wai)斷裂或擠壓，可以很容易地更換(huan)。可提供大(da)量(liang)可更換(huan)探針頭，以滿(man)足各種探測需(xu)求。

• 堅固、可靠和高速的MODEL 12C為集成電路提供了非常適中的負載。
• 它可以用于高速雙極、NMOS和CMOS電路的故障排除，甚至可以用于一些短保持時間的動態節點。
• 每個放大器都針對峰值性能和可靠性進行了單獨優化。

產地：美國

輸入電容(rong)：0.1pf

輸入電阻：1.0兆歐

上升/下降(jiang)時間：0.8ns

帶寬dc：至500 MHz

線性度：0.5%

電壓范圍：-10至(zhi)+20V

增益精度：±3%

信號衰減

高輸入阻抗示(shi)波器：10到1

50歐姆輸入：20到1