MProbe 20是一種用(yong)于全球(qiu)數千(qian)個應(ying)用(yong)的薄(bo)膜(mo)厚(hou)度(du)測(ce)量(liang)臺式系統。它只(zhi)需單擊鼠(shu)標(biao)即(ji)可(ke)(ke)測(ce)量(liang)薄(bo)膜(mo)厚(hou)度(du)和折射(she)率(lv)。可(ke)(ke)以(yi)快速(su)可(ke)(ke)靠(kao)地測(ce)量(liang)1nm至1mm的厚(hou)度(du)，包(bao)括(kuo)多層膜(mo)堆疊。不同的MProbe 20模型主要通過(guo)光(guang)譜(pu)儀的波長范圍(wei)和分(fen)辨率(lv)來區(qu)分(fen)，這反過(guo)來決定了可(ke)(ke)以(yi)測(ce)量(liang)的材料的厚(hou)度(du)范圍(wei)和類型。該測(ce)量(liang)技術基于光(guang)譜(pu)反射(she)——快速(su)、可(ke)(ke)靠(kao)且無損。

• 靈活：模塊化薄膜厚度測量系統：為您的應用選擇更好配置，并在需要時輕松升級
• 精度：<0.01nm或0.01%
• 材料：500+擴展材料數據庫
• 軟件：用戶友好且功能豐富的TFCompanion軟件甚至可以處理復雜的應用程序。層數無限制，支持背面反射率、表面粗糙度、暗度等。
• 集成：輕松集成TCP服務器
• 實時、一鍵測量和分析
• 測量歷史：調用/顯示測量結果和統計數據

產地：美國

精度：＜0.01nm或(huo)0.01%（在200nm氧化(hua)物(wu)上進(jin)行100次測量的(de)s.d.）

<1nm或0.2%（依賴(lai)于膠(jiao)片堆棧）

穩定性：＜0.02nm或0.2%（20天(tian)，每天(tian)測量）

測(ce)量(liang)厚度：1nm至1mm

光斑尺寸：<1mm

樣品尺寸：>=10mm

主機：包(bao)括光譜儀(yi)、光源、光控制器(qi)微處理器(qi)

樣品臺：SH200A

探頭：光纖反射

測試樣品：200nm氧化硅或PET薄膜

電纜：USB或LAN

電(dian)源適配(pei)器：24VDC

電壓：110/220V