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PVGD測(ce)試(shi)(shi)裝(zhuang)置適(shi)用于測(ce)試(shi)(shi)燃(ran)料(liao)氣(qi)(qi)體(ti)(如乙炔(gui)、丙烷、氫氣(qi)(qi))、氧氣(qi)(qi)和壓縮空氣(qi)(qi)的(de)(de)回火避雷器。然而(er),回火電阻(zu)(即阻(zu)火器的(de)(de)功(gong)能(neng))不能(neng)用PVGD測(ce)試(shi)(shi)裝(zhuang)置進行測(ce)試(shi)(shi)。此(ci)測(ce)試(shi)(shi)只(zhi)能(neng)由回火避雷器的(de)(de)制造商進行。回火和污(wu)垢顆(ke)(ke)粒<100μm會導致阻(zu)火器隨(sui)著時間的(de)(de)流逝(shi)而(er)堵塞(sai),從而(er)導致流速降(jiang)低。此(ci)外,通(tong)過(guo)入口(kou)過(guo)濾器的(de)(de)小污(wu)染顆(ke)(ke)粒會損(sun)害(hai)氣(qi)(qi)體(ti)止(zhi)回閥的(de)(de)功(gong)能(neng)。在裝(zhuang)置的(de)(de)整個生命周期中,所(suo)包(bao)含(han)的(de)(de)細孔阻(zu)火器可(ke)(ke)能(neng)會堵塞(sai)(例如由于受(shou)污(wu)染的(de)(de)氣(qi)(qi)體(ti)或氣(qi)(qi)體(ti)管線),從而(er)導致裝(zhuang)置的(de)(de)流速降(jiang)低。這(zhe)可(ke)(ke)能(neng)是閃回的(de)(de)一個可(ke)(ke)能(neng)原因。通(tong)過(guo)測(ce)試(shi)(shi)單(dan)元PVGD,可(ke)(ke)以測(ce)試(shi)(shi)回火防(fang)止(zhi)器是否(fou)有足(zu)夠的(de)(de)氣(qi)(qi)體(ti)流量。
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