Talint EDU是(shi)X射線Talbot Lau干(gan)涉儀(yi)的一種(zhong)巧妙(miao)簡(jian)化(hua)形式(shi)(shi)，包括所(suo)有必(bi)要的硬件，以正確設(she)置和微調干(gan)涉儀(yi)，并應用相位(wei)步進程(cheng)序，以獲得三(san)種(zhong)成像(xiang)模(mo)式(shi)(shi)：吸收、相位(wei)對比度(du)和暗(an)場(chang)對比度(du)。

硬件(jian)的(de)設計使得，在按照我們的(de)說明組裝（預(yu)裝）套(tao)件(jian)后(hou)，莫爾條紋將很容易在您的(de)探(tan)測器上看(kan)到。莫爾條紋圖(tu)案的(de)進(jin)(jin)一步微調(diao)可以通過使用(yong)G1和G2支架中的(de)微米螺釘使光(guang)柵繞光(guang)軸進(jin)(jin)行(xing)角旋轉，以直(zhi)接的(de)方式進(jin)(jin)行(xing)。

• 由基板定義，基板是M6的試驗板，間距為25mm
• 光柵是使用X射線LIGA技術制造的，該技術確保了高精度和高的高寬比（縱橫比）
• 通過定位銷固定；對稱設置
• 兩個光柵都可以通過調節測微螺釘繞光軸旋轉
• 包含控制器

產地：德國

長度：60厘米

寬度：15厘米

高度：20厘米

光柵開放區域

G0：15毫米

G1：70毫米

G2：70毫米

干涉儀(yi)的(de)微調(diao)(diao)：僅調(diao)(diao)整(zheng)G1和G2繞光(guang)軸(zhou)的(de)旋(xuan)轉角(jiao)度

樣品放(fang)置：簡單的旋轉臺，可在光(guang)軸內外擺動樣品

相位(wei)步(bu)進(jin)：閉環(huan)壓電級。30nm分(fen)辨率

邊緣(yuan)能見度：通常>15%

G0和G2的占空比：0.55

G0和G2的基板：400µm石墨

G1占空比：0.5

G1基板：200µm硅