產品介紹
顯(xian)著改善鐵含量的測(ce)量并增強與實驗室分析的一致性
新型能(neng)量色散電離(li)室，用于同(tong)時測量鐵和鋅的輻(fu)射
優(you)化(hua)的(de)幾何形狀和增加的(de)測(ce)量通道數量，以降低對表面紋理和拓撲的(de)敏(min)感度
測(ce)量頭(tou)內(nei)部(bu)測(ce)量信(xin)號的數字(zi)化，以在(zai)工(gong)業環境中(zhong)實現抗干(gan)擾性
使用XRF和康普頓散射，涂層厚度可達500 g/m2
新設計的(de)電離室，效率(lv)更高
優化的測量幾何形狀，對距離變化的靈敏度小
規格參數
新的(de)(de)(de)RS40i-GA測(ce)量(liang)頭及其優化的(de)(de)(de)測(ce)量(liang)算法，在鐵含(han)量(liang)測(ce)量(liang)的(de)(de)(de)準確(que)(que)性(xing)和(he)(he)可靠性(xing)方面取得(de)了另一項突破。新型測(ce)量(liang)頭的(de)(de)(de)中心部分(fen)(fen)是能量(liang)分(fen)(fen)散電離(li)室(shi)，可同時測(ce)量(liang)鐵和(he)(he)鋅的(de)(de)(de)熒光輻射(she)。確(que)(que)定(ding)輻射(she)分(fen)(fen)量(liang)的(de)(de)(de)信(xin)號以準確(que)(que)測(ce)量(liang)測(ce)量(liang)區域。創新的(de)(de)(de)電離(li)室(shi)和(he)(he)增加(jia)的(de)(de)(de)測(ce)量(liang)通道數量(liang)使得(de)探(tan)測(ce)器布置具有(you)嚴格的(de)(de)(de)對稱性(xing)和(he)(he)冗余(yu)性(xing)。這使得(de)對表面紋理(li)和(he)(he)拓撲的(de)(de)(de)敏感性(xing)降低。模(mo)塊化，易(yi)于維(wei)護(hu)(hu)的(de)(de)(de)設(she)計(ji)簡化了儀表頭的(de)(de)(de)維(wei)護(hu)(hu)，減(jian)少(shao)了停機(ji)時間和(he)(he)成本。
使用XRF方法測量鋅涂層將有用的測量范圍限制在350g/m2。RS40i-XT將鋅涂層的有用測量范圍提高到500g/m2甚至更高。這通過將涂層中的彈性和非彈性散射包括在測量效果中而成為可能。彈性和非彈性散射X射線的能量由初級X射線束和測量幾何形狀確定。RS40i-XT，測量范圍為10至500g/m2。
