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KARL DEUTSCH探頭Fe 0-500um 2442.986

產品介紹

多種(zhong)多樣的外部探頭(tou)使得(de)LEPTOSKOP 2042在復雜的幾何形狀的涂(tu)(tu)層測量和(he)困(kun)難的試(shi)驗條件下的測量更加(jia)靈活(huo)。高達20毫米的涂(tu)(tu)層厚度也是可(ke)能的。根據要求,KARL DEUTSCH可(ke)提供(gong)特別定制的探頭(tou)。

KARL DEUTSCH(卡爾德意志)自1949公司成立以(yi)來(lai),一直致力于研發和生產無(wu)損檢(jian)(jian)測(ce)(ce)儀器(qi)和設備,是個(ge)傳統(tong)的家族(zu)企業(ye)。產品包(bao)括便攜式(shi)儀器(qi),臺式(shi)儀器(qi), 探頭(tou)和滲(shen)透裂(lie)紋檢(jian)(jian)測(ce)(ce)劑(ji)。典型(xing)的檢(jian)(jian)測(ce)(ce)任務(wu)是超聲波焊縫檢(jian)(jian)測(ce)(ce),鑄件缺陷檢(jian)(jian)驗,用磁粉或(huo)滲(shen)透方(fang)法對鍛件裂(lie)紋檢(jian)(jian)測(ce)(ce),軌道(dao)交(jiao)通和航(hang)空(kong)安全系統(tong)中的部件檢(jian)(jian)測(ce)(ce),以(yi)及(ji)壁厚(hou)和涂層厚(hou)度測(ce)(ce)量。

規格參數

其它探頭型號

2442.100探(tan)頭Fe  0°,測量范圍0 - 5000μm

2442.110探頭(tou)Fe  90°,測量范圍(wei)0 - 5000μm

2442.120探頭鐵秒0°,測量范(fan)圍500 -20000μm

2442.130探頭NFe  0°,測量(liang)范(fan)圍0 - 1000μm

2442.140探頭NFe  S  0°,測(ce)量范(fan)圍0 -3750μm

2442.200雙極探(tan)頭Fe,測量范圍為0.5 -12.5μm

2442.300微探針(zhen)Fe  0°,測量范圍0 - 500μm

2442.310微(wei)型(xing)探頭NFe  0°,測量范圍0 - 500μm

2442.320微型(xing)探頭Fe  45°,測量范圍(wei)0 - 500μm

2442.330微型探頭NFe  45°,測量范圍(wei)0 - 500μm

2442.340微型探頭Fe  90°,測量范圍0 - 500μm

2442.350微型探頭NFe  0°,測量范圍0 - 500μm

2442.410結合(he)探測鐵(tie)NFe 0°,測量(liang)范圍(wei):Fe 0 -3000μm,NFe 0 - 1,250μm

2632.002  2米(mi)擴展(zhan)插頭(tou)線,用于LEPTOSKOP 2042

相關應用


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