所述(shu)EE375系(xi)列(lie)(lie)露點溫度(du)變送(song)器是(shi)(shi)基于一個緊湊的(de)(de)(de)結構中堅固的(de)(de)(de)鋁外(wai)殼。EE375系(xi)列(lie)(lie)的(de)(de)(de)核心是(shi)(shi)單片測量細胞類型HMC01，薄膜技(ji)術由E + E公司生產。在(zai)自動(dong)校準過程中，在(zai)設備中集(ji)成，允許<2℃Td的(de)(de)(de)精度(du)（±3.6°F Td）。變送(song)器有一個可(ke)自由選擇的(de)(de)(de)，可(ke)擴(kuo)展的(de)(de)(de)輸(shu)出(chu)露點，霜點或(huo)ppm體積濃度(du)。可(ke)選的(de)(de)(de)配置軟件可(ke)以(yi)模擬(ni)輸(shu)出(chu)到(dao)各自的(de)(de)(de)需求，調整(zheng)靈活方(fang)便，能夠容易地進行變送(song)器的(de)(de)(de)調整(zheng)/校準。

露點溫度范(fan)圍為-60至(zhi)(zhi)-20℃（-76...-4°F），在室溫下的(de)(de)露點溫度對應0.08至(zhi)(zhi)5.37％RH相對濕(shi)度。為了保證在很(hen)低濕(shi)度下精確度，在濕(shi)度感測元(yuan)件(jian)的(de)(de)最小漂(piao)移(yi)(yi)效應必須予以補(bu)償。一種特殊(shu)的(de)(de)自(zi)動校準方法(fa)，用于補(bu)償EE375系(xi)列通(tong)常的(de)(de)漂(piao)移(yi)(yi)影響，從而可(ke)得到更高的(de)(de)精度測量，即使在很(hen)低的(de)(de)露點溫度下。自(zi)動校準進行每30分鐘一次，大約(yue)需要3分鐘。自(zi)動校準期間，模擬輸出被凍結在很(hen)后測量值。

E+E 電子公(gong)司(si)是德國Heidenhain公(gong)司(si)的(de)子公(gong)司(si)，開(kai)發和生產溫濕(shi)(shi)度、風(feng)速(su)(su)以及CO2敏感(gan)元件、溫濕(shi)(shi)度、風(feng)速(su)(su)以及CO2變送器以及濕(shi)(shi)度校準(zhun)設備(bei)。公(gong)司(si)的(de)核(he)心技術(shu)為特有的(de)薄膜技術(shu)敏感(gan)元件。德國E+E主要(yao)市場包(bao)括工業自動化、HVAC暖通空調系(xi)統、測量和控制技術(shu)、白色家電、農業、過程控制和環(huan)境工程等。