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產品介紹
新(xin)型(xing)的(de)LSP-X1 掃(sao)描測(ce)頭，既(ji)能夠(gou)(gou)提供高精度測(ce)頭的(de)精密計量工具，又能夠(gou)(gou)和TESASTAR-m 自(zi)動(dong)分度測(ce)座完美(mei)匹(pi)配。點(dian)到點(dian)和連續掃(sao)描兩種(zhong)模式都(dou)能夠(gou)(gou)全面兼容，是中等尺寸的(de)楞邊(bian)復雜型(xing)和曲面復雜型(xing)工件(jian)的(de)理想(xiang)檢測(ce)方案。LSP-X1具有兩種(zhong)吸盤，并且可以支持長達220mm 以內的(de)各種(zhong)探(tan)針。吸盤的(de)自(zi)動(dong)更換可以通過TESASTAR-r 自(zi)動(dong)更換架實現(xian)，也可以通過專門的(de)支架僅(jin)僅(jin)更換探(tan)針。這種(zhong)磁吸測(ce)頭系統(tong)能夠(gou)(gou)快速和高重復性的(de)完成更換。
規格參數
- 超長探針
允許探測工件內部的深孔等特征。包括自動重量平衡系統。
- 自動探針更換功能
在測量過程中執行自動探針更換，而不需要重新校準。探針的磁力吸盤保證了快速而精確的更換。
- 具備碰撞保護功能
在發生誤碰撞的情況下保護測座。使得測量系統的工作時間達到最大化，并降低了擁有成本。
接觸工(gong)件表面(mian)時，測(ce)頭會自動(dong)沿著工(gong)件表面(mian)的(de)法矢量(liang)進(jin)行測(ce)量(liang)。通過線性(xing)可變微分傳(chuan)感器(LVDT)探(tan)測(ce)偏差，即(ji)使使用長(chang)的(de)加長(chang)桿，也可以(yi)對探(tan)針的(de)彎曲進(jin)行準確補償。這一特性(xing)減(jian)少(shao)了余弦(xian)誤差，確保了更高的(de)測(ce)量(liang)精(jing)度和效率，這對檢測(ce)復(fu)雜(za)幾(ji)何體如齒輪、轉子和葉片等是(shi)至關(guan)重要的(de)。
