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SPDR用(yong)(yong)于測量(liang)包括LTCC襯底在內(nei)的(de)(de)層(ceng)狀電(dian)介(jie)(jie)質材(cai)料的(de)(de)復介(jie)(jie)電(dian)常數，也用(yong)(yong)于沉積在低損耗介(jie)(jie)質襯底上(shang)的(de)(de)薄(bo)鐵電(dian)薄(bo)膜(mo)。此(ci)外，SPDR可用(yong)(yong)于測量(liang)各種(zhong)導(dao)(dao)(dao)電(dian)材(cai)料（如商用(yong)(yong)電(dian)阻(zu)層(ceng)，薄(bo)導(dao)(dao)(dao)電(dian)聚合(he)物膜(mo)或高電(dian)阻(zu)率半導(dao)(dao)(dao)體(ti)）的(de)(de)表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)和電(dian)導(dao)(dao)(dao)率。這種(zhong)測量(liang)僅適(shi)用(yong)(yong)于Rs> 5kΩ/平方的(de)(de)大(da)表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)采樣。樣品的(de)(de)最小尺寸(cun)取決于諧振器的(de)(de)工(gong)作頻(pin)率。SPDR適(shi)合(he)在-270℃至110℃的(de)(de)溫度下工(gong)作。

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