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半(ban)導體(ti)開關波形(器件損耗)
測量從電(dian)(dian)源頻率到射頻應用(yong)的高頻正(zheng)弦,脈沖或瞬態電(dian)(dian)流(liu)
電源轉(zhuan)換器開發和診斷例如:
- 小(xiao)至TO-247或大(da)功率模塊(kuai)端(duan)子(zi)的(de)MOSFET / IGBT器件
- 監測小電(dian)感器,電(dian)容器,緩(huan)沖電(dian)路等的(de)電(dian)流
在(zai)(zai)存(cun)在(zai)(zai)大(da)直流(liu)(liu)電流(liu)(liu)的(de)情況下測量小交流(liu)(liu)電流(liu)(liu)(例如監測電容器紋波)
測(ce)(ce)量電(dian)(dian)機驅動(dong)器中(zhong)(zhong)的電(dian)(dian)流,特別是VSD,UPS或SMPS電(dian)(dian)路中(zhong)(zhong)的電(dian)(dian)源質量測(ce)(ce)量
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